CNA

Centro Nacional de Aceleradores

Emisión de rayos X inducida por partículas (PIXE)

La técnica PIXE es un método analítico atómico a través del cual podemos llegar a conocer la concentración de los elementos en la superficie de la muestra que estamos estudiando. Para ello, la muestra que queremos analizar es irradiada con partículas cargadas  y aceleradas, normalmente protones. Dichas partículas producen vacantes en las capas electrónicas de los átomos de la muestra, las cuales, al desexcitarse, emiten rayos X característicos. Los rayos X son recogidos por uno o varios detectores de Si (Li) o Le (Ge), los cuales producen señales que son procesadas en una cadena electrónica y llevadas hasta un sistema de adquisición que nos da toda la información obtenida mediante el espectro de emisión de rayos X de nuestra muestra.

PIXE-WEB
Este espectro está formado por una serie de picos cuyas energías corresponden a las líneas de rayos X característicos de la muestra irradiada y cuya área está directamente relacionada con la concentración del elemento al que corresponde.
 
PIXE tiene una serie de ventajas muy importantes con respecto a otras técnicas analíticas:

- No destructiva. Esta característica, de enorme interés para el estudio de la mayoría de las muestras, es fundamental para el análisis de objetos únicos o de gran valor (objetos del Patrimonio Histórico, etc.).

- Multielemental. Mediante un único análisis podemos determinar simultáneamente todos los elementos constituyentes de la muestra con un número atómico superior al del Na (Z=11).

- Alta sensibilidad. Permite detectar concentraciones elementales del orden de μg/g.

- El número de aplicaciones de esta técnica es muy amplio. Puede utilizarse para estudios arqueométricos, biomédicos, biológicos, ciencia de materiales, estudios medioambientales, etc.